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能量色散X熒光光譜儀 XRF
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在線電鍍液分析儀
型號：OPA 1000
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產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置
OPA-1000在線電鍍液分析儀基于元素分析的實時過程控制，完全滿足檢測制造銅箔過程中在線電鍍液(液流)成分檢測要求，最多可測試80多種化學(xué)元素，檢測限從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度。
采用先進的第四代能量色散X射線熒光(EDXRF)技術(shù)，天瑞儀器OPA1000引領(lǐng)液流及固定位置的連續(xù)卷材生產(chǎn)在線元素分析的潮流。本設(shè)計用于跨越從重工業(yè)到食品級生產(chǎn)過程測量的解決方案，天瑞儀器OPA1000可配置為用于產(chǎn)品分類及非分類工作領(lǐng)域。
OPA1000性能及優(yōu)點
基于元素分析的實時過程控制
測定元素鋁13AI至鈾92U
從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度
堅固耐用的天瑞近光路設(shè)計+光學(xué)內(nèi)核與SDD探測器
工業(yè)級觸摸屏的用戶界面
易用的經(jīng)驗校準(zhǔn)及常規(guī)操作
非分類應(yīng)用領(lǐng)域的多重遠程分析測量頭
不使用危險的放射性同位素
成熟的技術(shù)和性能
為實現(xiàn)卓越的分析性能和可靠性，EDXRF測量頭組件選自于公認的天瑞儀器QC+高分辨率臺式儀器。借助這種成熟的技術(shù)，天瑞OPA1000提供快速、非破壞性、多元素分析一一從百萬分之一(ppm)水平到高濃度百分含量一一可分析的元素從鋁(13AI)至鈾(92U)。
獨特的免工具液流單元設(shè)計
對于液流的元素分析，一個分析頭與一個帶有X射線窗口的獨特的免工具液流單元組件相配合。X射線窗口容納了液體流，但對X射線可透射，它通常是一塑料薄膜。
涂層厚度及成分
除了分析液流，OPA1000因其多元素成分及涂層厚度測定的能力，也設(shè)計用于連續(xù)卷材的應(yīng)用。測頭通常安裝在輥軸上的固定位置，以保證測頭至樣品表面的距離恒定。元素組成可直接測量，涂層厚度也可直接測量(此時，元素的計數(shù)率與厚度成正比)，或通過某些基體元素的衰減以間接測量(此時，計數(shù)率與厚度成負相關(guān))。
XRF技術(shù)
X射線熒光(XRF)，電子吸收從X射線管射出的光(光子)，從內(nèi)層原子軌道逐出，更高能級軌道的電子躍遷以填補空白軌道，在此躍遷過程中激發(fā)出光子。因為一個特定元素每個原子的兩個特定軌道殼層間的能量差總是相同的，發(fā)出的光子始終有一個獨特的特征能量(KeV)。對于任何的特征能量，探測到的單位時間內(nèi)的光子數(shù)(每秒計數(shù))均與液流中該元素的濃度相關(guān)。
廣泛的應(yīng)用范圍
聚乙烯/PET制造:TPA和PTA催化劑
金屬表面處理:電鍍、酸洗和預(yù)處理池
采礦業(yè):溶劑萃取
化學(xué)品:混合添加劑和樹脂
造紙和塑料:釋放/屏障涂層、阻燃劑、紫外線穩(wěn)定劑
紡織及無紡布:阻燃劑、紫外線穩(wěn)定劑
金屬:轉(zhuǎn)化膜，其他表面涂層
石油:潤滑油添加劑及混合物
紙漿和紙:水處理
工業(yè):廢水
采用先進的第四代能量色散X射線熒光(EDXRF)技術(shù)，天瑞儀器OPA1000引領(lǐng)液流及固定位置的連續(xù)卷材生產(chǎn)在線元素分析的潮流。本設(shè)計用于跨越從重工業(yè)到食品級生產(chǎn)過程測量的解決方案，天瑞儀器OPA1000可配置為用于產(chǎn)品分類及非分類工作領(lǐng)域。
OPA1000性能及優(yōu)點
基于元素分析的實時過程控制
測定元素鋁13AI至鈾92U
從ppm水平到重量百分比(wt%)濃度
堅固耐用的天瑞近光路設(shè)計+光學(xué)內(nèi)核與SDD探測器
工業(yè)級觸摸屏的用戶界面
易用的經(jīng)驗校準(zhǔn)及常規(guī)操作
非分類應(yīng)用領(lǐng)域的多重遠程分析測量頭
不使用危險的放射性同位素
成熟的技術(shù)和性能
為實現(xiàn)卓越的分析性能和可靠性，EDXRF測量頭組件選自于公認的天瑞儀器QC+高分辨率臺式儀器。借助這種成熟的技術(shù)，天瑞OPA1000提供快速、非破壞性、多元素分析一一從百萬分之一(ppm)水平到高濃度百分含量一一可分析的元素從鋁(13AI)至鈾(92U)。
獨特的免工具液流單元設(shè)計
對于液流的元素分析，一個分析頭與一個帶有X射線窗口的獨特的免工具液流單元組件相配合。X射線窗口容納了液體流，但對X射線可透射，它通常是一塑料薄膜。
涂層厚度及成分
除了分析液流，OPA1000因其多元素成分及涂層厚度測定的能力，也設(shè)計用于連續(xù)卷材的應(yīng)用。測頭通常安裝在輥軸上的固定位置，以保證測頭至樣品表面的距離恒定。元素組成可直接測量，涂層厚度也可直接測量(此時，元素的計數(shù)率與厚度成正比)，或通過某些基體元素的衰減以間接測量(此時，計數(shù)率與厚度成負相關(guān))。
XRF技術(shù)
X射線熒光(XRF)，電子吸收從X射線管射出的光(光子)，從內(nèi)層原子軌道逐出，更高能級軌道的電子躍遷以填補空白軌道，在此躍遷過程中激發(fā)出光子。因為一個特定元素每個原子的兩個特定軌道殼層間的能量差總是相同的，發(fā)出的光子始終有一個獨特的特征能量(KeV)。對于任何的特征能量，探測到的單位時間內(nèi)的光子數(shù)(每秒計數(shù))均與液流中該元素的濃度相關(guān)。
廣泛的應(yīng)用范圍
聚乙烯/PET制造:TPA和PTA催化劑
金屬表面處理:電鍍、酸洗和預(yù)處理池
采礦業(yè):溶劑萃取
化學(xué)品:混合添加劑和樹脂
造紙和塑料:釋放/屏障涂層、阻燃劑、紫外線穩(wěn)定劑
紡織及無紡布:阻燃劑、紫外線穩(wěn)定劑
金屬:轉(zhuǎn)化膜，其他表面涂層
石油:潤滑油添加劑及混合物
紙漿和紙:水處理
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